ЖЭТФ, Том 108,
Вып. 6,
стр. 2216 (Декабрь 1995)
(Английский перевод - JETP,
Vol. 81,
No. 6,
p. 1208,
December 1995
)
Электронная структура аморфного SiO_2: Эксперимент и численное моделирование
Гриценко В.А., Иванов Р.М., Мороков Ю.Н.
Поступила в редакцию: 13 Июня 1995
|
|
Золотые страницы