JETP, Vol. 81,
No 6,
p. 1208 (December 1995)
(Русский оригинал - ЖЭТФ,
Том 108,
Вып. 6,
стр. 2216,
Декабрь 1995
)
Electronic structure of amorphous SiO2: Experiment and numerical simulation
V.A. Gritsenko, R.M. Ivanov, Yu. N. Morokov
Поступила в редакцию: 13 Июня 1995
|
|
Золотые страницы
PDF (456.2K)