ZhETF, Vol. 108,
No. 6,
p. 2216 (December 1995)
(English translation - JETP,
Vol. 81,
No. 6,
p. 1208,
December 1995
)
Электронная структура аморфного SiO_2: Эксперимент и численное моделирование
Гриценко В.А., Иванов Р.М., Мороков Ю.Н.
Received: June 13, 1995
|
|
Golden Pages