
ZhETF, Vol. 169,
No. 4,
p. 444 (April 2026)
(English translation - JETP,
Vol. 142, No. 4,
April 2026
available online at www.springer.com
)
Микроскопика NS-контактов
Арсеев П.И., Билинский П.И., Маслова Н.С.
Received: February 6, 2026
DOI: 10.31857/S0044451026040055
Для квазиодномерных систем из нормального металла и сверхпроводника получены выражения для полного микроскопического описания NS- и NSN-систем. Найдены простые выражения для наведенного в металле параметра порядка (аномальных средних) как функции расстояния от границы и температуры. Рассмотрена роль туннелирования через резонансные уровни на границе раздела нормальный металл-сверхпроводник и в формировании аномальных средних, и в андреевском токе. Ключевые слова}: эффект близости, андреевский ток, туннелирование в сверхпроводниках
|
|