ZhETF, Vol. 151,
No. 4,
p. 776 (April 2017)
(English translation - JETP,
Vol. 124, No. 4,
April 2017
available online at www.springer.com
)
Свойства растянутых образцов TaS3 в состоянии волны зарядовой плотности и в нормальном состоянии
Зыбцев С.Г., Покровский В.Я., Жигалина О.М., Хмеленин Д.Н., Старешинич Д., Штурм С., Чернышева Е.
Received: November 3, 2016
DOI: 10.7868/S0044451017040174
Одноосное растяжение нитевидных образцов квазиодномерного проводника ромбического TaS3 на величину, превышающую %, приводит к резкому росту когерентности свойств волны зарядовой плотности, что проявляется в ее движении в полях больших порогового, Et. Показано, что при одноосном удлинении TaS3 проявляет необычные свойства и в слабых полях: наблюдается немонотонная зависимость температуры пайерлсовского перехода TP от , уменьшение одномерных флуктуаций вблизи TP, а также увеличение длин когерентности волны зарядовой плотности при TP. Исследования в полях больших Et показали, что ультракогерентные свойства волн зарядовой плотности наблюдаются в широком диапазоне температур и сохраняются при повышении температуры вплоть до TP. Эти свойства ВЗП позволили наблюдать резкий рост Et вблизи TP, а также практически скачкообразный рост Et при T<90 К. Рост Et при приближении к TP объясняется уменьшением объема когерентности волны зарядовой плотности из-за флуктуационного подавления пайерлсовской щели.
|
|