ZhETF, Vol. 150,
No. 6,
p. 1160 (December 2016)
(English translation - JETP,
Vol. 123, No. 6,
p. 1008,
December 2016
available online at www.springer.com
)
Процесс формирования отрицательным мюоном ионизованного акцепторного центра (μ A)- в кристаллах со структурой алмаза
Белоусов Ю.М.
Received: June 14, 2016
DOI: 10.7868/S0044451016120117
Рассмотрен процесс формирования ионизованного акцепторного центра, образованного отрицательным мюоном в кристаллах со структурой алмаза. Отрицательный мюон, попадая в мишень, захватывается ядром, образуя мюонный атом μ A, связанный с решеткой. Возникший радиационный дефект обладает значительным электрическим дипольным моментом в силу нарушения локальной симметрии решетки и изменяет фононный спектр кристалла. Ионизованный акцепторный центр образуется в результате захвата электрона, взаимодействующего с электрическим дипольным моментом дефекта, и излучения фонона локальной моды, возникшей в результате деформации. Получены оценки верхней и нижней границы скорости образования ионизованного акцепторного центра в кристаллах алмаза, кремния и германия. Показано, что кинетика процесса формирования акцепторного центра должна учитываться при обработке данных μ SR-экспериментов.
|
|