ZhETF, Vol. 118,
No. 5,
p. 1222 (November 2000)
(English translation - JETP,
Vol. 91, No. 5,
p. 945,
November 2000
available online at www.springer.com
)
ОБОБЩЕННАЯ МОДЕЛЬ РЕКОМБИНАЦИИ В НЕОДНОРОДНЫХ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ СТРУКТУРАХ
Булярский С.В., Грушко Н.С.
Received: May 22, 2000
PACS: 72.20.Jv, 73.50.Gr
Получено обобщенное выражение для скорости рекомбинации в структурах с пространственным разделением электронов и дырок. Одной стадией такого процесса является туннелирование. Из общей модели при определенных допущениях вытекают модель рекомбинации Шокли-Рида и модель туннельной рекомбинации. Показано, что в туннельно-связанных областях может наблюдаться явление индуцированной рекомбинации. Получено выражение вольт-амперной характеристики поверхностно-барьерного диода, в котором имеет место туннельная рекомбинация. Теоретические результаты сопоставляются с экспериментом, выполненным с использованием поверхностно-барьерных структур, сформированных на арсениде галлия и тонких пленках As2Se3.
|
|