Журнал Экспериментальной и Теоретической Физики
НАЧАЛО | ПОИСК | ДЛЯ АВТОРОВ | ПОМОЩЬ      e
Общая информация о журнале
Золотые страницы
Адреса редакции
Содержание журнала
Сообщения редакции
Правила для авторов
Загрузить статью
Проверить статус статьи


ЖЭТФ, Том 127, Вып. 3, стр. 674 (Март 2005)
(Английский перевод - JETP, Vol. 100, No 3, p. 597, March 2005 доступен on-line на www.springer.com )

THERMAL CORRECTION TO RESISTIVITY IN DILUTE Si-MOSFET TWO-DIMENSIONAL SYSTEMS
Cheremisin M.V.

Поступила в редакцию: 15 Апреля 2003

PACS: 73.40.Qv, 71.30.+h, 73.20.Fz

DJVU (179.6K) PDF (453.3K)

15 April 2003} 24 April 2004} Neglecting electron-electron interactions and quantum interference effects, we calculate the classical resistivity of a two-dimensional electron (hole) gas taking the degeneracy and the thermal correction due to the combined Peltier and Seebeck effects into account. The resistivity is found to be a universal function of the temperature, expressed in the units of (h/e2)(kFl)-1. Analysis of the compressibility and thermopower points to the thermodynamic nature of the metal-insulator transition in two-dimensional systems. We reproduce the beating pattern of Shubnikov - de Haas oscillations in both the crossed field configuration and Si-MOSFET valley splitting cases. The consequences of the integer quantum Hall effect in a dilute Si-MOSFET two-dimensional electron gas are discussed. The giant parallel magnetoresistivity is argued to result from the magnetic-field-driven disorder.

 
Сообщить о технических проблемах