ЖЭТФ, Том 80,
Вып. 3,
стр. 1206 (Март 1981)
(Английский перевод - JETP,
Vol. 53,
No. 3,
p. 618,
March 1981
)
Статья доступна on-line только в английском переводе.
Investigation of dislocations in silicon by the photo-ESR method
V.V. Kveder, Yu. A. Osip'yan
Поступила в редакцию: 31 Июля 1980
|
|
Золотые страницы
PDF (299.6K)