ZhETF, Vol. 155,
No. 3,
p. 440 (March 2019)
(English translation - JETP,
Vol. 128, No. 3,
p. 379,
March 2019
available online at www.springer.com
)
Влияние времяпролетной хроматической аберрации на динамику распространения импульсного электронного пучка в сверхбыстрой электронной микроскопии: новая стратегия повышения временного разрешения
Асеев С.А., Садков А.С., Миронов Б.Н., Ищенко А.А., Чекалин С.В., Рябов Е.А.
Received: August 28, 2018
DOI: 10.1134/S0044451019030064
Распространенная стратегия, направленная на достижение высокого временного разрешения в сверхбыстрой электронной микроскопии и дифракции, основана на использовании сильных электростатических полей в ускоряющем промежутке для формирования быстрых электронных импульсов сверхкороткой длительности. В работе исследована динамика распространения ультакоротких фотоэлектронных сгустков с учетом времяпролетной хроматической аберрации - расплывания электронных импульсов на выходе из области ускоряющего электрического поля. Представлены результаты расчета длительности фотоэлектронных импульсов с учетом кулоновского расталкивания. Согласно проведенному анализу, использование сильных электростатических полей в ускоряющем промежутке для формирования быстрых электронных импульсов сверхкороткой длительности не является необходимым условием для достижения финального высокого временного разрешения в методе сверхбыстрой электронной микроскопии. Обнаружены режимы работы ультрабыстрого просвечивающего электронного микроскопа, когда временное разрешение улучшается по мере роста времяпролетной хроматической аберрации.
|
|