Эффект увеличения размеров пентамеров при сканирующей туннельной микроскопии: роль поверхностных радикалов
Жачук Р.А., Кутиньо Ж.

Received: July 7, 2018

DOI: 10.1134/S0044451019010085

PDF (3356.7K)

Сканирующая туннельная микроскопия (СТМ) является одним из наиболее мощных инструментов для определения атомной структуры поверхности. Однако интерпретация изображений микроскопии с высоким разрешением не однозначна. В этой статье мы описываем физический механизм формирования СТМ-изображений, исходя из которого можно предположить такие положения атомов, которые будут существенно отличаться от наблюдаемых. Описанный эффект часто не учитывается экспериментаторами, работающими с СТМ. Показано, что такие искаженные СТМ-изображения формируются в присутствии поляризованных поверхностных радикалов, наклоненных под значительным углом к нормали к поверхности. В этой работе эффект проиллюстрирован на примере увеличения размеров пентамеров, наблюдаемых на поверхностях (110), (113) и (331) с помощью СТМ.