ZhETF, Vol. 152,
No. 3,
p. 607 (September 2017)
(English translation - JETP,
Vol. 125, No. 3,
p. 518,
September 2017
available online at www.springer.com
)
Электростатическое взаимодействие макрочастиц в плазме в режиме сильного экранирования
Филиппов А.В., Дербенев И.Н., Паутов А.А., Родин М.М.
Received: March 24, 2017
DOI: 10.7868/S0044451017090176
Изучено электростатическое взаимодействие сферических частиц в равновесной плазме или электролите в режиме умеренного и сильного экранирования, когда размеры макрочастиц оказываются сравнимыми или много больше дебаевского радиуса экранирования. Развита приближенная теория электростатического взаимодействия макрочастиц в случае постоянных потенциалов их поверхности в режимах слабого и умеренного экранирования. В этой теории при заданном межчастичном расстоянии заряды макрочастиц определяются с использованием вакуумных емкостных коэффициентов, скорректированных с учетом эффектов плазменного экранирования. Сама сила взаимодействия вычисляется с полученными зарядами на основе решения задачи о взаимодействии в однородном диэлектрике (вакууме) и домножается на плазменный фактор. Также найдено приближенное решение задачи в режиме сильного экранирования. Сравнение с точным решением показало высокую точность предложенных методов расчета.
|
|