Диэлектрический тензор низкоразмерных металлических систем
Курбацкий В.П.

Received: November 5, 2016

DOI: 10.7868/S004445101707015X

PDF (252.2K)

На основе теории матрицы плотности в приближении времени релаксации введен диэлектрический тензор низкоразмерных металлических систем. Исследованы его свойства. Доказано, что анизотропия и нелокальность являются определяющими чертами отклика низкоразмерных систем на электромагнитное поле. Получено, в частности, выражение для диэлектрического тензора металлических пленок нанометровой толщины. Показано, что компоненты диэлектрического тензора сводятся к диэлектрической функции Друде для однородного металла, когда толщина пленки намного превышает эффективную длину свободного пробега электронов. При том же условии становится правомерным применение классической функции распределения для описания электронов в пленке.