ZhETF, Vol. 150,
No. 5,
p. 985 (November 2016)
(English translation - JETP,
Vol. 123, No. 5,
p. 859,
November 2016
available online at www.springer.com
)
Статистическая модель металлического включения в полупроводящих средах
Шикин В.Б.
Received: November 9, 2015
DOI: 10.7868/S0044451016110171
Обсуждаются свойства отдельного многозарядного атома, внедренного в полупроводящую среду. Рассмотрение обобщает результаты известной теории Томаса-Ферми для многозарядного () атома в вакууме при его погружении в электрон-дырочный газ с конечной температурой. Задача об атоме Томаса-Ферми-Дебая имеет прямое отношение к свойствам доноров в слаболегированных полупроводниках и альтернативна в своих заключениях по отношению к идеальному сценарию диссоциации доноров. Отдельный донор при бесконечно слабом легировании в существующей идеальной статистике полностью ионизован (заряженный центр не удерживает нейтрализующих его противоионов). Атом Томаса-Ферми-Дебая (для краткости ТФД-донор) остается нейтральным образованием, удерживающим свою экранирующую «шубу» даже при бесконечно слабом уровне легирования, т.е. в области , где nd - концентрация легирующей примеси, λ 0 - дебаевская длина с параметрами собственного полупроводника. В работе обсуждаются различные наблюдаемые следствия в поведении ТФД-донора, дающие возможность судить о реальности заключений ТФД-модели донора.
|
|