ZhETF, Vol. 143,
No. 6,
p. 1166 (June 2013)
(English translation - JETP,
Vol. 116, No. 6,
p. 1006,
June 2013
available online at www.springer.com
)
ТЕОРЕТИЧЕСКОЕ ИССЛЕДОВАНИЕ ФАКТОРОВ ВЛИЯНИЯ НА ДИСПЕРСИЮ ОБЪЕМНЫХ СОСТОЯНИЙ КРАЕВ ЭНЕРГЕТИЧЕСКОЙ ЩЕЛИ И ПОВЕРХНОСТНЫХ СОСТОЯНИЙ В ТОПОЛОГИЧЕСКИХ ИЗОЛЯТОРАХ Bi2 Te3 и Bi2 Se3
Русинов И.П., Нечаев И.А., Чулков Е.В.
Received: October 29, 2012
DOI: 10.7868/S0044451013060177
Рассмотрены особенности дисперсии состояний краев энергетической щели в объемных топологических изоляторах Bi2 Te3 и Bi2 Se3 в рамках теории функционала электронной плотности. Проанализирована зависимость указанной дисперсии как от приближения, выбираемого для обменно-корреляционного функционала, при фиксированных параметрах элементарной ячейки и атомных позициях, так и от значений этих параметров и положений атомов в ячейке, получаемых в результате структурной релаксации, проведенной при использовании того или иного приближенного функционала. Обсуждается относительное положение точки Дирака топологически защищенных поверхностных состояний и максимума валентной зоны в электронной структуре поверхности изучаемых топологических изоляторов.
|
|