Journal of Experimental and Theoretical Physics
HOME | SEARCH | AUTHORS | HELP      
Journal Issues
Golden Pages
About This journal
Aims and Scope
Editorial Board
Manuscript Submission
Guidelines for Authors
Manuscript Status
Contacts


ZhETF, Vol. 133, No. 1, p. 197 (January 2008)
(English translation - JETP, Vol. 106, No. 1, January 2008 available online at www.springer.com )

ВЛИЯНИЕ ЭЛЕКТРОННОЙ ЭМИССИИ НА ЗАРЯД И ЭКРАНИРОВКУ МАКРОЧАСТИЦЫ В ПЛАЗМЕ В РЕЖИМЕ СПЛОШНОЙ СРЕДЫ
Дьячков Л.Г., Храпак А.Г., Храпак С.А.

Received: June 13, 2007

PACS: 52.27.Lw, 52.20.Hv

DJVU (89.1K) PDF (281.9K)

В рамках приближения сплошной среды рассмотрено влияние электронной эмиссии с поверхности сферической макрочастицы, помещенной в плазму, на ее заряд при условии, что можно пренебречь ионизацией и рекомбинацией в возмущенной области плазмы вокруг макрочастицы. Введен параметр, характеризующий интенсивность эмиссии независимо от ее механизма (вторичной, фото- или термоэмиссии), получено аналитическое выражение для заряда макрочастицы Zd и приведен критерий изменения его знака. Более подробно рассмотрен случай термоэмиссии. Показано, что потенциал вдали от макрочастицы имеет кулоновскую асимптотику с некоторым эффективным зарядом Zeff, который всегда отрицателен независимо от знака Zd. Таким образом, при Zd > 0 потенциал меняет знак и проходит через минимум, что делает возможным электростатическое притяжение между положительно заряженными макрочастицами.

 
Report problems