ZhETF, Vol. 133,
No. 1,
p. 197 (January 2008)
(English translation - JETP,
Vol. 106, No. 1,
January 2008
available online at www.springer.com
)
ВЛИЯНИЕ ЭЛЕКТРОННОЙ ЭМИССИИ НА ЗАРЯД И ЭКРАНИРОВКУ МАКРОЧАСТИЦЫ В ПЛАЗМЕ В РЕЖИМЕ СПЛОШНОЙ СРЕДЫ
Дьячков Л.Г., Храпак А.Г., Храпак С.А.
Received: June 13, 2007
PACS: 52.27.Lw, 52.20.Hv
В рамках приближения сплошной среды рассмотрено влияние электронной эмиссии с поверхности сферической макрочастицы, помещенной в плазму, на ее заряд при условии, что можно пренебречь ионизацией и рекомбинацией в возмущенной области плазмы вокруг макрочастицы. Введен параметр, характеризующий интенсивность эмиссии независимо от ее механизма (вторичной, фото- или термоэмиссии), получено аналитическое выражение для заряда макрочастицы Zd и приведен критерий изменения его знака. Более подробно рассмотрен случай термоэмиссии. Показано, что потенциал вдали от макрочастицы имеет кулоновскую асимптотику с некоторым эффективным зарядом Zeff, который всегда отрицателен независимо от знака Zd. Таким образом, при Zd > 0 потенциал меняет знак и проходит через минимум, что делает возможным электростатическое притяжение между положительно заряженными макрочастицами.
|
|