ZhETF, Vol. 131,
No. 4,
p. 662 (April 2007)
(English translation - JETP,
Vol. 104, No. 4,
p. 586,
April 2007
available online at www.springer.com
)
ЭЛЕКТРОННЫЕ СВОЙСТВА СИЛЬНО ЛЕГИРОВАННЫХ БОРОМ МОНОКРИСТАЛЛОВ АЛМАЗА
Буга С.Г., Бланк В.Д., Терентьев С.А., Кузнецов М.С., Носухин С.А., Кульбачинский В.А., Кречетов А.В., Кытин В.Г., Кытин Г.А.
Received: June 13, 2006
PACS: 71.20.-b, 72.20.-i, 72.20.Ee
Методом температурного градиента при высоких статических давлениях выращены монокристаллы алмаза с характерными размерами 2-7 мм, легированные бором в диапазоне концентраций 1019-1020 см-3. Измерена зависимость сопротивления R синтезированных монокристаллов от температуры в диапазоне 0.5 К K наблюдается активационная зависимость R(T) с энергией активации около 50 мэВ. При температурах ниже примерно 50 K зависимость проводимости от температуры сильнолегированных кристаллов пропорциональна T1/2, что характерно для вырожденных полупроводников с большим количеством дефектов.
|
|