Journal of Experimental and Theoretical Physics
HOME | SEARCH | AUTHORS | HELP      
Journal Issues
Golden Pages
About This journal
Aims and Scope
Editorial Board
Manuscript Submission
Guidelines for Authors
Manuscript Status
Contacts


ZhETF, Vol. 120, No. 5, p. 1246 (November 2001)
(English translation - JETP, Vol. 93, No. 5, p. 1082, November 2001 available online at www.springer.com )

ГИГАНТСКАЯ ЭЛЕКТРОПРОВОДНОСТЬ В ИНТЕРФЕЙСЕ CuO-Cu И ЕЕ ВТСП-ПОДОБНЫЕ ИЗМЕНЕНИЯ С ТЕМПЕРАТУРОЙ
Осипов В.В., Кочев И.В., Наумов С.В.

Received: January 16, 2001

PACS: 68.35.-p, 73.40.-c, 74.76.-w, 74.80.Dm

DJVU (223.1K) PDF (588.2K)

Исследованы температурные зависимости электропроводности и вольт-амперные характеристики (ВАХ) образцов, представляющих собой монокристаллы CuO, на естественные грани которых нанесена термическим испарением в вакууме или электролизом пленка Cu. Показано, что после электротермического или термического отжига электропроводность, отнесенная к пленкам Cu, возрастает многократно вплоть до 1.5• 105 раз и более по сравнению с контрольными пленками Cu на ситалле. Полученные результаты объясняются образованием между CuO и Cu интерфейсного слоя, природа высокой электропроводности которого в настоящее время неясна. Предполагается, что связанная с этим слоем гигантская электропроводность, ее ВТСП-подобное изменение с температурой и нелинейность ВАХ могут быть обусловлены формированием сверхпроводящих областей с критическими температурами, значительно превышающими 400 К.

 
Report problems