ГИГАНТСКАЯ ЭЛЕКТРОПРОВОДНОСТЬ В ИНТЕРФЕЙСЕ CuO-Cu И ЕЕ ВТСП-ПОДОБНЫЕ ИЗМЕНЕНИЯ С ТЕМПЕРАТУРОЙ
Осипов В.В., Кочев И.В., Наумов С.В.

Received: January 16, 2001

PACS: 68.35.-p, 73.40.-c, 74.76.-w, 74.80.Dm

DJVU (223.1K)

PDF (588.2K)

Исследованы температурные зависимости электропроводности и вольт-амперные характеристики (ВАХ) образцов, представляющих собой монокристаллы CuO, на естественные грани которых нанесена термическим испарением в вакууме или электролизом пленка Cu. Показано, что после электротермического или термического отжига электропроводность, отнесенная к пленкам Cu, возрастает многократно вплоть до 1.5• 10⁵ раз и более по сравнению с контрольными пленками Cu на ситалле. Полученные результаты объясняются образованием между CuO и Cu интерфейсного слоя, природа высокой электропроводности которого в настоящее время неясна. Предполагается, что связанная с этим слоем гигантская электропроводность, ее ВТСП-подобное изменение с температурой и нелинейность ВАХ могут быть обусловлены формированием сверхпроводящих областей с критическими температурами, значительно превышающими 400 К.