JETP, Vol. 83,
No 6,
p. 1231 (December 1996)
(Русский оригинал - ЖЭТФ,
Том 110,
Вып. 6,
стр. 2236,
Декабрь 1996
)
Measurement of the thickness of 180 domain boundaries in silicon iron from the refraction of cold and thermal neutrons
K.M. Podurets, S. Sh. Shil'shtein, F. Eichhorn
Поступила в редакцию: 11 Июля 1996
|
|
Золотые страницы
PDF (185.9K)