JETP, Vol. 81,
No 2,
p. 363 (August 1995)
(Русский оригинал - ЖЭТФ,
Том 108,
Вып. 2,
стр. 669,
Август 1995
)
Investigation of the structure of porous silicon using second harmonic generation and atomic force microscopy
A.V. Mel'nikov, Yu. N. Moiseev, T.V. Murzina
Поступила в редакцию: 23 Августа 1994
|
|
Золотые страницы
PDF (198.1K)