JETP, Vol. 64,
No 4,
p. 832 (October 1986)
(Русский оригинал - ЖЭТФ,
Том 91,
Вып. 4,
стр. 1411,
Октябрь 1986
)
LEED and Auger electron spectroscopy study of the Si(111)-2x1+Ag overlayer system in the temperature range 8-300 K and coverage range θ=0-20 monolayers
V. Yu. Aristov, I.L. Bolotin, F.A. Grazhulis, V.M. Zhilin
Поступила в редакцию: 30 Января 1986
|
|
Золотые страницы
PDF (443.8K)