Журнал Экспериментальной и Теоретической Физики
НАЧАЛО | ПОИСК | ДЛЯ АВТОРОВ | ПОМОЩЬ      e
Общая информация о журнале
Золотые страницы
Адреса редакции
Содержание журнала
Сообщения редакции
Правила для авторов
Загрузить статью
Проверить статус статьи


ЖЭТФ, Том 158, Вып. 4, стр. 706 (Октябрь 2020)
(Английский перевод - JETP, Vol. 131, No 4, p. 618, October 2020 доступен on-line на www.springer.com )

Эволюция ферромагнетизма пленок MnxSi1-x (x\approx 0.5), полученных лазерным синтезом на подложках сапфира c- и r-срезов, при изменении плотности энергии лазерного излучения на мишени
Паршина Л.С., Дровосеков А.Б., Новодворский О.А., Храмов О.Д., Гусев Д.С., Черебылко Е.А., Черноглазов К.Ю., Веденеев А.С., Рыльков В.В.

Поступила в редакцию: 28 Апреля 2020

DOI: 10.31857/S0044451020100132

PDF (1002.5K)

Методом импульсного лазерного осаждения в бескапельном режиме на подложках сапфира c- и r-срезов получены тонкие пленки MnxSi1-x (x\approx 0.5) при различных плотностях энергии лазерного излучения E на мишени. Исследованы их магнитные, электрические и рентгеноструктурные свойства в зависимости от величины E и ориентации подложки. Установлено, что при E\geq 6 \text {Дж}/\text {см}^2 высокотемпературная ферромагнитная фаза в пленках проявляется сильнее, чем при E\approx 4-5 Дж/см2, когда преобладает низкотемпературная ферромагнитная фаза и отсутствует влияние ориентации подложки сапфира. Достигнутая температура Кюри TC составила 330 К при E\approx 7.4 Дж/см2 для пленок MnxSi1-x, полученных на подложках сапфира c- и r-срезов. При этом намагниченность пленок MnxSi1-x, полученных при E\geq 6 Дж/см2 на сапфире c-среза, выше, чем на сапфире r-среза, и, наоборот, ниже, когда E\leq 5.5 \text {Дж}/\text {см}^2. В этих условиях наблюдается также изменение соотношения амплитуд диффузного сигнала в рентгеновских спектрах для пленок, выращенных на разных подложках. Такое коррелированное поведение с намагниченностью объясняется существованием нанокристаллитов \varepsilon -MnSi оптимального размера, которые, с одной стороны, обусловливают возникновение диффузного сигнала рентгеновских спектров, с другой, - определяют высокотемпературный ферромагнетизм пленок. Концентрация таких нанокристаллитов и характер распределения дефектов в пленках контролируются типом подложки и плотностью энергии на мишени.

 
Сообщить о технических проблемах