ПРИМЕНЕНИЕ ОБОБЩЕННОГО МАТРИЧНОГО МЕТОДА УСРЕДНЕНИЯ ДЛЯ РАСЧЕТА ЭФФЕКТИВНЫХ СВОЙСТВ ТОНКИХ СЛОЕВ МУЛЬТИФЕРРОИКОВ
Старков А.С., Старков И.А.

Поступила в редакцию: 28 Марта 2014

DOI: 10.7868/S0044451014110108

DJVU (122.7K)

PDF (296.2K)

Для нахождения параметров эффективной среды, эквивалентной по своим физическим свойствам набору слоев мультиферроиков, предлагается использовать обобщение матричного метода усреднения. Данный метод позволяет обходиться без решения сложной системы уравнений магнитоэлектроупругости. При получении искомых характеристик системы слоев используются только действия с матрицами, что существенно упрощает вычисления и позволяет рассчитывать многослойные системы. Подход данной работы применим для расчета свойств тонких слоев, когда толщина всей системы много меньше ее длины, радиуса кривизны и длин волн, которые могут распространяться в системе (длинноволновое приближение). Матричный метод усреднения позволяет также получить эффективные характеристики периодической структуры, каждый период которой состоит из тонких слоев мультиферроиков.