Журнал Экспериментальной и Теоретической Физики
НАЧАЛО | ПОИСК | ДЛЯ АВТОРОВ | ПОМОЩЬ      e
Общая информация о журнале
Золотые страницы
Адреса редакции
Содержание журнала
Сообщения редакции
Правила для авторов
Загрузить статью
Проверить статус статьи


ЖЭТФ, Том 145, Вып. 3, стр. 508 (Март 2014)
(Английский перевод - JETP, Vol. 118, No 3, p. 442, March 2014 доступен on-line на www.springer.com )

ПАРНЫЕ КОРРЕЛЯЦИИ В БИДИСПЕРСНОЙ ФЕРРОЖИДКОСТИ ВО ВНЕШНЕМ МАГНИТНОМ ПОЛЕ: ТЕОРИЯ И КОМПЬЮТЕРНОЕ МОДЕЛИРОВАНИЕ
Нехорошкова Ю.Е., Гольдина О.А., Кэмп Ф.Дж., Елфимова Е.А., Иванов А.О.

Поступила в редакцию: 18 Октября 2013

DOI: 10.7868/S0044451014030136

DJVU (282.1K) PDF (1213.6K)

Вычисляется парная функция распределения g( r) феррожидкости, которая моделируется бидисперсной системой дипольных твердых сфер. Изучается влияние внешнего однородного магнитного поля и полидисперсности на g( r) и связанный с ней структурный фактор. Расчет проводится методами диаграммного разложения в рамках термодинамической теории возмущений по концентрации частиц и интенсивности межчастичного диполь-дипольного взаимодействия. Приведены аналитические выражения для парной функции распределения с точностью до первого порядка по плотности и второго порядка по интенсивности дипольного взаимодействия. Построенная теория сравнивается с результатами компьютерного моделирования (метод Монте-Карло) для определения ее области применимости. С помощью преобразования Фурье парной корреляционной функции g( r)-1 определяется структурный фактор рассеяния. Анализируется влияние гранулометрического состава и интенсивности магнитного поля на значение и положение первого максимума структурного фактора, наиболее легко поддающихся экспериментальному изучению. Полученные данные могут служить основой для интерпретации экспериментальных результатов малоуглового нейтронного рассеяния и определения закономерностей в поведении структурного фактора, его зависимости от фракционного состава феррожидкости, межчастичных корреляций и внешнего магнитного поля.

 
Сообщить о технических проблемах